咨询电话

13331917708

当前位置:首页  >  技术文章  >  ZETA电位测量使用动态光散射技术进行测量

ZETA电位测量使用动态光散射技术进行测量

更新时间:2023-11-08      点击次数:138
  ZETA电位测量是一种用于测量颗粒表面电荷特性的技术。它是一种基于电动力学原理的测量方法,通过测量颗粒在电场中的移动速度来确定颗粒表面的电位。广泛应用于颗粒表面性质研究、胶体稳定性评价、生物医学领域等领域。原理是基于颗粒在电场中的移动速度与其表面电位之间的关系。当颗粒处于电场中时,其表面会受到电场的作用而带有电荷,这些电荷会影响颗粒在电场中的移动速度。根据电动力学原理,颗粒在电场中的移动速度与表面电位之间存在一定的关系,通过测量颗粒在电场中的移动速度,可以确定颗粒表面的电位。
  

 

  ZETA电位测量通常使用动态光散射技术进行测量。在测量过程中,首先将待测颗粒悬浮在适当的介质中,然后施加电场,通过激光照射颗粒,测量颗粒在电场中的移动速度。根据测量得到的颗粒移动速度,结合电场强度和介质性质,可以计算出颗粒表面的ZETA电位。
  
  ZETA电位测量在许多领域有着广泛的应用。在颗粒表面性质研究中,可以用于研究颗粒的表面电荷特性、电双层结构等,为颗粒的表面改性和功能化提供重要参考。在胶体稳定性评价中,可以用于评价颗粒的分散性和稳定性,为胶体体系的设计和优化提供重要依据。在生物医学领域,可以用于研究生物颗粒的表面电荷特性,对于药物传递、细胞分离等具有重要的应用价值。
©2024 上海倍蓝光电科技有限公司版权所有 All Rights Reserved.     备案号:沪ICP备19036474号-2

技术支持:化工仪器网     管理登陆     sitemap.xml